高溫、低溫、交變濕熱或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化!

隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來(lái)愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過(guò)程中**可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其高質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗(yàn)的重要性也對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。

滿(mǎn)足GB/T 2423.1－2008試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》; GB/T 2423.3-2006試驗(yàn)Ca《恒定濕熱試驗(yàn)方法》等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB/T 10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB/T10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)。

    本高低溫濕熱試驗(yàn)箱可以用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在規(guī)定的溫度下，或濕熱環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫濕度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射!